中禹联重检测技术中心隶属于上海禹重实业有限公司，作为面向21世纪专业的材料分析服务机构，为各行业及终端用户提供高价值专业分析和测试咨询服务，以及第三方的产品验证。在冶金、建筑、矿山、地质、环境、机械、化工、电子电气、石油、生物、制药、医疗、纺织、食品和农业等众多领域，我们与瑞士通标（SGS）、美国EAG、上海材料研究所测试中心和钢研检测中心等权威检测单位开展广泛而持久的合作关系。

UZonglab是您在新产品新材料开发、制程监控、品质控制、失效分析中不可缺少的合作伙伴。禹重科技的材料分析专家具有广泛的专业知识，让客户能够充分理解现有分析技术的范围，以及性能极限。您完全可以相信我们的技术并帮助您改善产品的性能、提升成品良率、缩短研发时间、降低生产成本、解决问题达到预期的效果。

成分分析主要是用于确认材料或者薄膜的成分以及主要组成的含量。
选择分析方式的技巧主要取决于以下几个因素：

• 关于样品我们已经了解多少？
• 什么样的信息需要进行量化（主要元素、微量元素、化学成份或者分子构成等等）？
• 是否需要表面分析、块材分析或者薄层分析？

表面分析
最好使用浅层深度（<100Å）信息的量化技术来对元素和化学表面成份进行测量，例如Auger电子光谱或者X-射线光电子光谱。

块材分析
最好是使用忽略表面成份变化并且带有较大/较深信息的技术来确定块材成分，通常在这些方法中找不到具体的深度信息。X射线荧光分析（XRF）和感应耦合电浆原子发射光谱（ICP-OES）是可以同时定量主要元素成分和微量元素成分中最具相关性的技术。

薄层分析

• 卢瑟福背散射（RBS）是为了定量薄膜中已知主要元素而选择的一种技术。
• 低能X-射线发射光谱（LEXES）和拉赛福背向散射(RBS)是互补的，并且对于轻元素和低含量杂质具有良好的敏感性。它还可以用于映射整个晶圆上的膜的组成和厚度。
• 如果薄膜的主要成分未知，那么X-射线光电子光谱（XPS）就是一种很好的选择。
• 如果分析区域有尺寸限制，那么Auger电子光谱（AES）是一种很好的选择。
• 二次离子质谱法（SIMS）在对化合物半导体薄膜进行高度精确份分测量方面具有广泛的应用。
• 傅立叶红外光谱（FTIR）和拉曼光谱非常适合用于测试有机薄膜上化学或分子的信息。

化学主要检测项目包括：

• 钢铁及合金的主量和痕量元素成分测定
• 冶金原辅料，如矿石、石灰石、炉渣、耐火材料等化学成分分析
• 有色金属及合金成分分析
• 纯金属分析
• 金属材料涂镀层分析
• 电子电气产品RoHS检测
• 未知样品鉴别
• 现场分析
• 有机分析
• 水体、环境样品分析
• 高分子材料定性定量分析

我们具备的分析手段和技术：

• AES(Auger电子能谱)
• AFM/SPM(原子力显微镜)
• EBSD(电子背散射衍射）
• EDS(能量色散 X射线光谱）
• FIB(聚焦离子束）
• FTIR(傅利叶红外光谱）
• GCMS(气相色谱质谱)
• GDMS(辉光放电质谱)
• ICP-OES/MS(电感耦合等离子发射光谱/质谱）
• IGA(仪器气体分析)
• LA-ICP-MS(激光刻蚀－电感耦合等离子质谱）
• LEXES(低能量X射线发射光谱)
• OP(光学轮廓测定)
• Raman(拉曼光谱）
• RBS(卢瑟福背散射)
• SEM(扫描电子显微镜)
• SIMS(二次离子质谱)
• TEM/STEM(透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜)
• TGA/DTA(热重分析/热差分析)
• TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)
• TXRF(全反射X射线荧光光谱)
• XPS/ESCA(X射线光电子能谱/化学分析电子光谱)
• XRD(X射线衍射）
• XRF(X射线荧光)
• XRR(X射线反射)
• ATE测试和工程服务
• Burning/Reliability(老化/可靠性测试)
• ESD测试和闩锁效应测试
• PCB设计和组装服务
• Circuit Edit (FIB线路修改和调试服务)
• Failure Analysis(失效分析)