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表面分析仪器

表面分析技术利用包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、电子探针、X射线光电子能谱、俄歇电子能谱、二次离子质谱、场离子显微镜与原子探针、扫描隧道电子显微镜、原子力显微镜、掠入射X射线衍射等分析手段得到物质表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息。凭借我们多年的专业知识和经验,我们为航空、汽车、材料、电子、化学、生物、地质学、医学、冶金、机械加工、半导体制造、陶瓷品等行业提供可靠且灵活的仪器配置方案,可以帮助您从事最高效的研究活动。

体式和光学显微镜

常用的显微镜有双目连续变倍体视显微镜、金相显微镜、偏光显微镜、紫外荧光显微镜等。双目体视显微镜在生物、医学领域广泛用于切片操...

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扫描和透射电镜

电子显微镜是目前材料研究不可或缺的研究手段,包括透射/扫描电子显微镜 (TEM/SEM)、聚焦离子束 (FIB) 系统,或者...

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扫描探针显微镜

扫描探针显微镜(SPM)不仅可以得到高分辨率的表面成像,而且可以成三维的样品表面图像,还可对材料的各种不同性质进行研究。SP...

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电子探针显微镜

电子探针可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析,可以进行点、线扫描(得到层成分分布信息)、面扫描分析(得...

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X射线衍射仪

对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物...

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XPS光电子能谱仪

X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectrograph)用于固体样品的表面组成分析、化学状态分...

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AES俄歇电子能谱仪

俄歇电子能谱仪(Auger Electron Spectrometer, AES)为微电子业常见的表面分析技术之一,纳米探针...

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TOF-SIMS质谱仪

TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通过用一次...

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